| 過(guò)程檢驗

1）采用原子力顯微鏡（AFM）對電拋后的基帶、隔離層的表面粗糙度進(jìn)行檢驗。

2）采用X射線(xiàn)衍射儀對涂層的物相、結晶情況及薄膜面內面外織構度、薄膜應力情況等進(jìn)行測定，以保證生產(chǎn)中各層薄膜質(zhì)量符合制備工藝要求。

3）采用掃描電子顯微鏡（SEM）對各涂層的表面形貌和分切切口進(jìn)行觀(guān)察。

4）采用探針式輪廓儀對各涂層的厚度進(jìn)行檢測。

從左至右分別為AFM、XRD、SEM、探針式輪廓儀

| 出廠(chǎng)檢驗

1）采用MCorder高溫超導帶材臨界電流均勻性測試系統對超導長(cháng)帶的電流均勻性進(jìn)行測定。

2）采用PPMS綜合物性測量系統對長(cháng)帶端樣進(jìn)行低溫高場(chǎng)性能測試，4.2K 0-6T（全檢）4.2K 0-12T（抽檢）。

3）分別用倒帶機、千分尺、游標卡尺對帶材的幾何尺寸（長(cháng)度、厚度、寬度）進(jìn)行測量。

MCorder高溫超導帶材臨界電流均勻性測試系統